
Ausgewähltes Archivobjekt
Kinder mit Erzieherin am Sandkasten vor dem WF-Gebäude
Archivobjekt
Kinder mit Erzieherin am Sandkasten auf dem Spielplatz vor einem WF-Gebäude; Bildquelle der Reihe Kinder im WF.
Archiv
Bestände, Quellen und Recherche
Kuratierte Wege durch das Material liegen in Sammlungen. Hier beginnt der genauere Blick: Suchfeld, Themenfelder, Objektfamilien und lokale Archivkopien.
Auch öffentlich nachgewiesen in: museum-digital · DDB · Europeana
Objektfamilien
Objektfamilie
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Objektfamilie
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Ergebnisse
Gerät
LC-Messer LCM 1, Ansicht ohne Gehäuse von der Seite [?]. Mit einem LC-Meter werden Induktivität und Kapazität eines elektronischen Bauelements gemessen.
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Gerät
LC-Messer LCM 1, Ansicht ohne Gehäuse von der Seite [?]. Mit einem LC-Meter werden Induktivität und Kapazität eines elektronischen Bauelements gemessen.
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Gerät
LC-Messer LCM 1, Ansicht ohne Gehäuse von oben [?]. Mit einem LC-Meter werden Induktivität und Kapazität eines elektronischen Bauelements gemessen.
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Bauteil
Abmontiertes Bauteil des Elektronenmikroskopes SEM 2.
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Gerät
Gedrucktes Schaltbild, Reproduktionsfoto aus: Funkschema, 12/1956, S. 486/6.
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Gerät
Laut Findbucheintrag ein SEV-Netzgerät [SEV = Fotovervielfacher ?], das Gerät ist beschriftet (Mitte links) mit "Netzgerät für Zeiss-Multiplier, 13-stufig", Gesamtansicht von vorne.
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Gerät
Teilansicht eines Nachleuchtzeitenmessgerätes, ohne weitere Angaben.
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Bauteil
Ein in Einzelbauteile zerlegter Siemens-Blattschreiber mit Nummern bezeichnet, Legende fehlt, Reproduktionsfoto aus Siemens Zeitschrift 2/1958, S. 55, Bild 2.
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Bauteil
Einzelbauteil des Siemens-Blattschreibers, Reproduktionsfoto aus Siemens Zeitschrift 2/1958, S. 55, Bild 4.
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Bauteil
Ausgebauter Drehschalter zur Auswahl eines Messbereichs von schräg oben hinten.
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Bauteil
Ausgebauter Drehschalter zur Auswahl eines Messbereichs von schräg oben vorne, bezeichnet mit Volt; offen – 100 – 10 – 1.
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Gerät
LC-Messer LCM 1, Ansicht ohne Gehäuse von oben. Mit einem LC-Meter werden Induktivität und Kapazität eines elektronischen Bauelements gemessen.
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Gerät
LC-Messer LCM 1, Ansicht ohne Gehäuse von hinten. Mit einem LC-Meter werden Induktivität und Kapazität eines elektronischen Bauelements gemessen.
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Bauteil
Ausgebauter Drehschalter zur Auswahl eines Messbereichs von vorne ohne Verblendnung.
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Gerät
Verstärker für den Klein-Dia Abtaster KDA 1, Ansicht von unten ohne Gehäuse.
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Gerät
Verstärker für den Klein-Dia Abtaster KDA 1, Ansicht von hinten ohne Gehäuse.
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Gerät
Messmikroskop vom Hersteller Leitz, Gesamtansicht.
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Bauteil
Abmontiertes Bauteil des Elektronenmikroskopes SEM 3, Foto mit nachträglicher Durchnummerierung einiger Teile, Legende nicht vorhanden.
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